특허 · 2023 성과 기록

역제도 복사 효과를 사용한 고밀도 플라즈마의 실시간 전자밀도 시공간 분포 측정 기술

출원등록기관
성균관대학교 산학협력단
사업자 등록번호
지재권 종류
특허
원자료 범위 구분
국내 출원
출원국
대한민국
원자료 출원·등록 구분
특허출원
출원등록번호
10-2023-0191834
출원등록일자
2023-12-26
사업화 활용
해당없음
사업자 연결
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원자료 식별
수집본 1 · 엑셀 행 2324

연결이 확인된 기술

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