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전자기 문제 해석 방법

기술 개요)o본 발명은 전자기 문제를 수치해석적으로 계산하는 모사 방법에 관한 것으로서, 특히 수치해석 연산 과정에서 전산 모사 방법을 개시하고, 구체적인 연산 프로세스 과정을 나타내는 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 전자기 문제 해석 방법은 광학 문제로의 확장이 가능함기술 특징 및 대표청구항)o전자기 문제 실험 영역 내의 전자기 현상을 고려하여 전압 분포 현상을 구하기 위한 수치 해석 단계; 정점의 데이터의 크기를 대별할 수 있는 식별자 부여 단계; 및 상기 등가선 도시를 위한 좌표를 계산하는 단계를 포함하는 계산 방법임

보유기관

인하대학교

등록일

2008-12-08