일반기술
IC 데이터 패키지와 테스트 컨텍 유니트
이 테스트 패키지는 IC를 實裝 상태와 동일한 동작환경에서 테스트할 수 있도록 되어 있다. 패키지내에서는 IC에 전원을 공급, 최종 시험을 행할 수 있다. 재현성과 테스트 결과가 일정하도록 배려하고 있다. 테스트 패키지와 테스트 컨텍 유니트는 IC 마다 특수 주문 제작된다. 또 IC 마다 테스트 프로그램도 특수 주문 제작되므로 교육이 필요하다.본 테스트 폐키지와 테스트 治具는 테스트 내용, IC내용, 용도에 맞춰서 제작 됨.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 반도체
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-02-19
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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