일반기술
암석, 광석, 광물 샘플의 내부 구조의 X선 단층 촬영 분석
암석 샘플 공극 공간의 조직 및 구조의 비파괴 검사로서, 광물 함유 동정, 광석 농도 결정, 결정립에 있어서의 광물의 형태상의 특징 및 천연(원상) 분포, 그리고 귀금속, 준귀금속, 광석의 내부 구조의 품질 분석 등을 수행한다. 산업 컴퓨터 X선 마이크로 단층 촬영기 VT-50 "Geotom"을 이용하여 분석이 실시된다. 분석 기법은 샘플의 구조 요소를 동정하기 위하여 고안되었다. 주사되는 층의 두께는 30 마이크로미터 이상이고, 공간 해상도는 25 마이크로미터, 1 단층 촬영 화상의 성능은 10-15분이다.산업 컴퓨터 X선 마이크로 단층 촬영기 VT-50 "Geotom"을 이용하여 분석이 실시된다. 분석 기법은 샘플의 구조 요소를 동정하기 위하여 고안
기술정보
- 기술분류
- 에너지·자원 > 기타 자원 탐사 기술
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-06-13
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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