일반기술
전자기 결함 검출기 Expert VD-95R
균열 또는 부식과 같은 밀집된 결함 현상에 기인하는 전자기장 변형을 기록하는 장치에 대해 서술하였다. 픽업과 검사 표면 사이의 작동 유격 Z가 5h보다 작은 조건에서 0.1mm 이상의 균열을 측정할 수 있다. 여기에서 최대 Z는 7mm이다. 글라이더 테두리에서의 부식 결함, 자성 및 비자성 재료에서, 7mm까지의 보호층을 포함하는, 표면 및 표면 내부의 균열의 측정에 활용이 가능하다. 이 장치의 장점으로는, 픽업과 표면 사이의 허용 유격(Z)이 크고, 이동이 가능하고, 큰 제어 깊이를 갖는 것을 들 수 있다.픽업과 표면 사이의 허용 유격(Z)이 크고, 이동이 가능하고, 큰 제어 깊이를 갖음.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 산업용 전기전자
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-06-29
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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