일반기술
재료의 LMM-1 레이저 미량 분석기
LMM-1 미량 분석기는 정밀하게 계량된 레이저 방사 에너지(개량)의 안정된 방출 장치, 광학 장치, 분광기와 제어 장치로 구성되어 있고 모든 장치의 구성요소는 컴퓨터로 제어된다. 특성을 열거하면, 분석될 요소는 Li(원소 번호 3)에서 U(원소 번호 92)까지, 최대 집광 측정 오차 5%, 측정 시간 1분, 집광 측정의 동적 범위(분석되는 요소에 의존성이 있음)는 (10-3 - 10-2)에서 100%. 장점으로는 다음과 같다. 첫째, 알려진 유사품과 차별하여 LMM-1 미량 분석기는 핀-포인트 정밀도에 의해 금속 군의 분석이 가능하다. 둘째, 실질적으로 모든 비금속 군(플라스틱 재료, 광학 유리, 제약, 전자 공학을 위한 광석과 반도체 재료) 재료의 분석이 가능하다. 셋째, 얇은 다층 코팅(자기 테이프와 다층 광학 유전체 코팅 등등의 품질과 화학적 조성)의 분석이 가능하다. 넷째, 광물, 바위, 금 결정립, 기타 같은 종류 등의 분석이 가능하다. 주요 응용 범위는 야금학, 금속 과학, 기계 건조 산업, 전기 산업, 생태학, 약전, 화학 그리고 원자력 산업, 광업, 지질학, 광물학, 범죄학, 세관 서비스, 물질과 재료의 검증이다.1) 알려진 유사품과 차별하여 LMM-1 미량 분석기는 핀-포인트 정밀도에 의해 금속 군의 분석 가능.2) 실질적으로 모든 비금속 군(플라스틱 재료, 광학 유리, 제약, 전자 공학을 위한 광석과 반도체 재료) 재료의 분석 가능. 3) 얇은 다층 코팅(자기 테이프와 다층 광학 유전체 코팅 등등의 품질과 화학적 조성)의 분석 가능. 4) 광물, 바위, 금 결정립, 기타 같은 종류 등의 분석 가능.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-02-26
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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