일반기술

고온 초전도체 평가를 위한 장치와 방법

열확산성과 광굴절성이 다른 것에 의존하는 온도 측정에 의한 단결정과 고온 초전도체막 평가를 위한 광학열 현미경광학열 현미경

기술정보

기술분류
전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
보유기관
특허법인충정
기술유형
일반기술
등록일
2001-02-26
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

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