일반기술
주사 기반 BIST를 위한 비트 고정법
이것은 주사를 가진 회로의 BIST를 위한 낮은 오버헤드 기구이다. 높은 고장 도달은 성능 열화와 회로-하부-시험의 수정없이 얻을 수 있다. 선형 피드백 시프트 레지스터(LFSR)는 주사 체인속으로 시프트 유사 랜덤 패턴에 이용된다. 랜덤 패턴 상주 고장을 검출하는 결정론적 시험 패턴은 LFSR에 의해 생성된 비트의 유사 랜덤 순차에서 내장된다. 이것은 고정 임의 비트에의 LSFR 직렬 출력에서 비트 고정 논리를 부가함에 의한 유사 랜덤 순차 변경에 의해 달성할 수 있다. 이 기법은 현재 가장 좋은 기법과 비교하여 BIST 하드웨어의 중요한 감소에서의 결과인 결정론적 시험 패턴의 매우 높은 부호화 효율을 마련해 준다.회로 시험 수정없이 임의의 높은 고장 수렴율, 성능 저감없음, 현재의 가장 좋은 상태보다 손실이 적음, 간단한 BIST 제어 논리, BIST 회로의 자동 합성
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 시험측정 기술 (B63)
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-02-27
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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