일반기술
베이시안 구조망을 이용한 진단 시스템
이 발명품은 공급 체인에서 3부분 공급기와 원격 분할의 참여를 가진 메카트로닉스 장비를 위한 추론 시스템과 고분산 계층 재귀 진단 모델 제어, 유지, 구축, 생산을 위한 시스템 통합 회사(OEM)를 허용한다.자료 없음
기술정보
- 기술분류
- 정보 > 기타 시스템 소프트웨어
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-03-01
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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