일반기술
비가역 광효과의 측정을 위한 간섭 측정 기법
선택적으로 20mm 거리의 범위까지 낮은 분해능을 가진 수마이크로라디안 또는 그 이하의 준위에서 비가역적 광효과로부터 나타나는 상대적 상변이 측정을 위한 방법과 장치이다. 이 기법은 중크롬 또는 이중 냉각과 같은 가역 효과에 민감하지 않다.높은 측정 감도, 모든 비자기 광학 효과에의 면역, 구현을 위한 상대적으로 저렴한 비용
기술정보
- 기술분류
- 물리학 > 기타 광학
- 보유기관
- 특허법인충정
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-03-01
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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