일반기술

3차원 표면조도 측정 S/W 및 측정기술

본 기술은 기존 표면조도 측정시스템인 Talysurf6의 기능이 2차원 측정만 가능하여, 표면전체의 조도측정을 위하여 3차원 표면측정시스템 개발을 목표로 시도, 개발되었다. 이에 3차원 표면측정용 정밀 2축 테이블 제작 3차원 및 2차원 표면측정 S/W 개발, Stylus Amplifier로부터의 Data Acquisition 방안 연구 및 표면조도 분석을 위하여 측정된 데이터의 2차원 및 3차원 waviness, roughness를 계산하는 S/W를 개발하였다.본 기술의 구체적인 내용은 다음과 같다.- 시현의 표면조도를 측정하였을 때의 정밀도는 0.01㎛이며, 분해능은 0.002㎛이다. 시편의 최대크기는 100×100㎜이며, 금속/비금속시편 모두 측정이 가능하다. 측정속도는 5.6㎜를 100회 측정시 30분 정도가 소용된다.- S/W의 기능은 측정된 데이터를 profile, net, contour, color level로 표시해 주는 기능과 조도값으로 waviness, roughness를 계산해 주는 기능을 가지고 있다본 기술은 3차원 표면측정으로 강판제품의 품질향상에 기여하고 시편의 3차원 표면측정의 자동화와 작업원의 능률향상, 그 밖에 시편표면의 흠, scratch등 3차원 미소 형상 검사 기능의 기대 효과를 가지고 있다. 따라서, 냉연강판의 표면조도를 측정하여 제품품질 관리를 정밀하게 할 수 있으며, 기계가공된 공작물의 표면상태를 정밀하게 분석할 수 있다.