일반기술
비동기식 OFDM 시스템의 샘플링주파수 옵셋 추정방식
본 발명은 비동기식 OFDM 시스템의 샘플링 주파수 옵셋 추정방법에 관한 것이다. 본발명은 송신단의 주파수 영역에서 특정 부채널에만 테이터가 실린 하나 또는 두개의 OFDM 훈련심볼을 전송한 수 수신단의 시간 영역에서 샘플링된 서로 다른 두 샘플 상이의 위상차를 구하여 샘플링 주파수 옵셋을 추정하도록 함을 특징으로 한다. 또한, 본 발명은 두 OFDM 훈련심볼을 사용하여 반송파 주파수 옵셋과 샘플링 주파수 옵셋을 동시에 추정하도록 함을 특징으로 한다.본발명은 시간 영역에서 처리되기 때문에 샘플링 주파수 옵셋 추정시간 지연을 배제하고, 추정계산 과정을 간단화하며, 인접 채널간 간섭의 영향을 받지 않도록함으로써 주파수 옵세의 추정성능을 크게 향상 시키게 된다 - 반송파 주파수 옵셋과 샘플링 주파수 옵셋을 동시에 추정 가능함. - 수신단의 시간 영역에서 샘플링된 서로 다른 두 샘플 상이의 위상차만을 이용함.
기술정보
- 기술분류
- 통신 > 기타 무선·이동통신
- 보유기관
- 전자부품연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2001-09-01
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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