일반기술
광학스캐닝 실험이 가능한 현미경
Pulsed Force Mode는 망판용 스크린 측정 현미경을 통해 지형지질학 실험외에도 10억분의 1또는 백만분의 1의 범위에서 위치에 따른 경직이나 응결과 같은 매개변수를 결정하는데 쓰이고 있다. PFM는 100Hz - 2kHz사이에서 사용자가 정한 주파수내에서 10-500nm의 진폭을 가진 Atomic Force Microscopy (AFM)을 사인곡선화한 것이다. 실험체의 스캐닝면적은 5mm×5mm로 실험체와 현미경의 거리를 좁혀 음력을 발생시켜 음력-거리를 곡선화한다. 주파수의 각 사이클당 힘-거리곡선이 만들어지고 이것을 오실로스코프를 통하여 관찰할 수 있다.응결, 경직, 지형지질학적 내용을 동시에 측정할 수 있다. 형태학적 방법과 그 기능, 물리화학적인 특성을 개발하는데 활용할 수 있다. 100nm 이하크기로 분해한 것을 시각적으로 관찰할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 생명과학 > 기타 생물자원 보존·생산·이용 기술
- 보유기관
- 대일기업평가원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2002-02-04
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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