일반기술
위상천이 모아레를 이용한 반도체 package 고정밀 3D 측정
산업용 3차원 고정밀 비접촉 측정위상천이 모아레를 이용한 비접촉 고속, 고정밀(submicron) 3차원 측정
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 표시소자
- 보유기관
- 한국과학기술원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2002-04-17
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.
일반기술
산업용 3차원 고정밀 비접촉 측정위상천이 모아레를 이용한 비접촉 고속, 고정밀(submicron) 3차원 측정
정보 없음
등록된 관련 특허가 없습니다.