일반기술
나노소자의 무접촉 탐침(T-1.184)
second optical harmonic generation phenomenon을 기본으로 응용한 나노구조의 재료에 대한 진단 기술. 이 진단 기술을 통해 crystallographic 및 전자 구조의 탐침이 가능하고, 또한 나노구조 재질의 전기 물리적 특성의 조사가 가능하다.나노구조의 얇은 필름, 원자구조, 초격자구조, 양자구조 재료의 전기 물리적 성분 분석이 가능
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 티알씨코리아
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2002-04-30
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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