일반기술
Atomic Force Microscope를 이용한 염색체 분석 기술
Atomic Force Microscope를 이용한 염색체 구조 분석Atomic Force Microscope를 이용한 염색체 분석 방법을 이용하여 기존의 염색체 분석 방법의 여러 한계점을 극복
기술정보
- 기술분류
- 생명과학 > 기타 유전자 공학
- 보유기관
- 한국과학기술연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2002-05-29
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.