일반기술
표면결함 감시 시스템
파르시텍-표면검사시스템을 통하여 종이나 플라스틱 생산과정에서 생기는 표면 결함을 발견하여 모니터나 감시 카메라로 그 결과를 나타내고 이를 코일데이터베이스에 보관함.제지 생산 과정 중 생길 수 있는 결함을 신속 정확하게 발견하여 효율적인 생산관리가 가능
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 산업용 전기전자
- 보유기관
- 한국과학기술연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2002-06-08
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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