일반기술
사용자 지향의 광굴절 카메라를 이용한 홀로그래픽 간섭계
광굴절 크리스탈을 기반으로 한 홀로그래픽카메라로 소재의 결함을 검사하고 진동을 측정 ,이시스템은 분리된 레이져와광학 섬유에 의해 링크된 카메라 헤드로 구성기존 소재결함 검사방법에 비해 정밀
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 반도체
- 보유기관
- 한국과학기술연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2002-07-05
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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