일반기술
TRISTAN-코팅층두께 측정을 위한 분광계
파동길이와 반사된 빛의 밀도를 측정하여 코팅두께 측정데이터분석 및 저장을 하나의 디바이스로 구현, 염가
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 센서·엑츄에이터 소자 (F61)
- 보유기관
- 한국과학기술연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2002-07-05
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.
일반기술
파동길이와 반사된 빛의 밀도를 측정하여 코팅두께 측정데이터분석 및 저장을 하나의 디바이스로 구현, 염가
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