일반기술

Langumuir Trough 표면 전기화학 프로브

본 연구진은 air/sub phase 인터페이스에서 생긴 단층들을 측정하는 전기화학 프로브를 만들어 실험하였다. 본 발명의 장치는 연속 계면 이층 전극(CIBE)으로 알려져 있으며, 사용자가 연속적인 측정을 통하여 표면 압력, 온도, sub phase 조성 또는 다른 실험 파라미터들의 함수로서 단층의 유전적 성질들을 구할 수 있게 한다. 프로브는 평균 두께, 유전 상수 및 air/sub phase 인터페이스에서의 확대 단층의 용매 및 이온 투과성에 관한 데이터들을 출력한다. CIBE에서 얻어진 데이터 값들은 또한 단층에서 고체 지지체들(solid supports)로의 물질이동(transfer)의 용이성을 모니터링 하는데 사용될 수 있다.본 발명의 주요 특징들은 다음과 같다.1. CIBE는 확대 단층의 유전적 성질의 접촉 측정을 할 수 있게 해줌으로써 물질이동 된 단층 등의 전기화학적 특징들을 방해하는 심각한 오류를 없애준다.2. Langmuir balance system들에 이미 공동으로 추가되는 켈빈 표면 포텐셜 프로브로 CIBE에 같은 lock-in 증폭 전자공학을 사용한다.3. UMCP 모형 CIBE 장치는 매우 간단하게 만들어지고 손쉽게 생산자들의 특정 Langmuir trough 설계에 사용될 수 있다.심각한 오류없이 단층의 유전적 성질을 측정하며, 간단하게 만들어 손쉽게 사용할 수 있다.