일반기술
저전압에서 고저항 정밀측정 기술
본 기술은 10 ㏁이상의 고저항을 10 V 이하의 저전압에서 정확히 측정하는 기술이다. 일반적인 저전압 고저항 측정의 경우 제로옾셋 근처의 미약한 전류를 측정해야하므로 노이즈 차폐에 많은 비용이 소요되고 측정의 신뢰성이 낮은 데 비해 본 기술은 제로옾셋의 영향을 근본적으로 제거하여 간단하면서도 정확한 측정이 가능하다.- 고저항 반도체 웨이퍼 비저항 측정- LCD 소재 저항 측정- 정밀측정 기기 절연 특성 측정- 각종 재료의 저전압 절연 특성 측정- 고저항 측정기기
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 한국표준과학연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2002-11-18
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.