일반기술
분광반사율 측정장치 제작기술
물체의 분광반사율을 가시광선영역에서 적분구와 array detector를 사용하여 물체 표면에서 확산 반사하는 반사율을 수백 ms의 짧은 시간에 측정할 수 있는 장치를 제작하는 기술이다.이 기술을 이용한 절대반사율 측정장치는 세계 최고수준의 정확도를 갖는다. 분광반사율, 분광복사분포를 초고속으로 측정하므로 색채분석, 분광분석, 온도분석 등이 빠르고 정확하다.- 섬유, 페인트, 인쇄산업에서 색채관리- 각종모니터, TV, 빔프로젝터, LED 대형화면 등과 같은 디스플레이의 색채관리, 분광 복사도, 분포온도 측정- 고온로의 온도 측정
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 한국표준과학연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2003-01-03
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.