일반기술
나노 광 특성 평가기술
NSOM(near-field scanning optical microscope)은 근접광(near field)을 이용하는 장비로 나노 공간분해능을 갖고 있다. 본 기술은 기존의 광 계측 기술로는 광의 공간분해능 (∼ 1 μm) 한계 때문에 불가능하였던 다양한 나노 소재의 광학적 특성을 NSOM을 이용하여 평가하는 기술이다. 또한 이 기술은 기존의 반도체 광 특성평가 기술인 Raman 분광, 반사, 흡수, 투과 등과 결합하여 나노공간에서의 광특성 평가를 활용할 수 있는 장점이 있다.- 미소 광학부품 (MOEMS; micro opto-electro mechanical systems)의 광특성 및 결함 측정 - 나노구조체의 나노광 특성평가 - 광통신용 광섬유 광특성 평가- 레이저 다이오드 등 광소자 특성평가
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 한국표준과학연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2002-12-03
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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