일반기술
고속 광 스펙트럼 측정기술
발광소자의 분광스펙트럼, 시료의 광 흡수율, 투과율, 반사율을 측정할 수 있는 장치이며 기술이다. 고정형 분광기와 1차원 PDA 또는 CCD를 이용하여 빠르게 분광스펙트럼을 얻을 수 있으므로 빠른 신호처리를 필요로 하는 산업체에서 활용할 수 있다. 기존 시스템에 비해 장치제작 가격이 저렴하고 소형화 및 빠른 측정이 가능하다. -화학분야: 액체시료의 투과율, 흡수율, 반사율 측정 -광학분야: 유리 및 렌즈의 투과율, 반사율 측정 -광발광(LED.LD.EL)소자의 발광스펙트럼 측정 -수질, 대기, 토양의 오염 분석 -Color 측정 및 분석
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 한국표준과학연구원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2003-01-03
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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