일반기술

스캐닝 탐침 현미경(SPM) (격자 눈금 정하기, 캔틸레버) [Kr 1.159]

SPM은 신뢰할 수 있으며, 심플한 작동 장치이다. 동 장치는 수퍼-하이 해상도의 무제한의 사이즈를 갖는 표면 연구의 가능성을 제공하며, 자기와 전정기 힘, 전도성의 공간적 특성 등의 분포를 포함한 지형학의 비교 정보를 제공해 준다. SPM의 적용 분야는 다음과 같다.- 10nm까지의 수평면과 0.01nm 수직 평면의 해상도를 가지는 기하학적인 지형학의 연구 ; 30nm까지의 해상도를 가지는 표면 전기 수용력 분포 연구 ; 전기, 자기, 전기력 표면 경감 연구 ; 10nm이하 사이즈의 평면을 가지는 나노 구조의 시뮬레이션과 제작 실행멀티 모드 SPM은 고 정밀 마이크로 공학 연구를 사용한 표면 구조의 연구를 가능하게 하며, 그 표면의 특징 변경이 가능하게 한다. SPM의 적용 분야는 다음과 같다.- 10nm까지의 수평면과 0.01nm 수직 평면의 해상도를 가지는 기하학적인 지형학의 연구 ; 30nm까지의 해상도를 가지는 표면 전기 수용력 분포 연구 ; 전기, 자기, 전기력 표면 경감 연구 ; 10nm이하 사이즈의 평면을 가지는 나노 구조의 시뮬레이션과 제작 실행

기술정보

기술분류
전기·전자 > 계측기기
보유기관
티알씨코리아
기술유형
일반기술
등록일
2003-06-26
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

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