일반기술
발광 다이오드와 곡면 반사경을 이용한 조명 장치 및 이를 포함하는 자동화 결함 장치
자동화 결함 검사 장치에서 사용되는 조명 장치에서, 발광 다이오드로부터 나오는 빛을 검사 대상 물체쪽으로 반사할 수 있는 곡면 반사경을 설치하여, 곡면 반사경에 의해 반사된 빛을 검사 대상 물체에 조사한다. 이렇게 함으로써 사각 조명을 피할 수 있어 그림자가 생기는 현상을 막을 수 있으며, 균일한 조명을 얻을 수 있다.발광 다이오드와 곡면 반사경을 이용하여 대상 물체에 빛을 조사함으로써 종래 기술의 조명에 비해 훨씬 균일한 조명을 얻을 수 있으며, 이에 따라 두께가 있는 물체의 경우도 그림자가 생성되는 것을 방지할 수 있어 대상 물체에 대한 선명한 영상을 얻을 수 있다. 따라서, 이와 같은 조명 장치를 포함하는 자동화 결함 검사 시스템은 일정한 정도 이상의 두께를 갖고 있으며, 홈이나 개구 등이 있는 제품에 대해서도 만족스러운 결함 검사를 할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 한얼특허사무소
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2003-07-15
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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