일반기술

식품중에 함유된 이물질 검출을 위한 연질 X선 스팩터클해석 기술

현재 X선을 이용하여 이물질을 검출하는 기술은 투과 X선 강도를 측정하는 것이 주류를 이루고 있으며 투과 강도차를 해석함으로써 검사가 행해지고 있다. 이러한 방법은 투사광에 의한 영향을 관찰하는 것과 같다고 할 수 있다. 투과 X선의 강도는 Beer-Lambert법칙에 기초한 X선 흡수계수, 투과거리 및 X선의 파장에 의해 결정된다. 따라서 투과거리를 일정하게 하고 파장마다의 투과 X선 강도를 계측한다면 물질의 분광적인 X선 흡수특성의 차이가 계측 가능해지며 보다 정밀하게 이물질을 검출할수 있게 된다.X선 계측에서는 軟 X선 마이크로포커스 시스템을 도입하여 보다 정밀도 높은 이물질 검출을 행하는 것이 가능하게 되었다. 기존의 X선 장치에서 과제로 여겨지던 것은 밀도가 낮은 물건, 얇은 물건, 연질의 물건, 미세한 물건 등에 대해서 감도불량을 극복하는 것이 과제가 되어 왔다. 이러한 軟 X선 마이크로포커스 시스템의 특징으로서는 기존의 문제를 극복하고 어떠한 밀도하에서도 선명한 형상을 얻을 수 있는 기술을 개발하였다.