일반기술

탁도측정장치

시료수의 탁도를 측정하는 장치에 관한 것으로서, 상기 시료수에 광원을 조사하는 레이저다이오드와 상기 레이저다이오드로부터 발광되는 광을 수광하여 탁도측정/발광량조정부로 피드백하는 포토다이오드를 포함하는 발광부와 상기 발광부 전단부에 위치하며 시료수에 조사되는 광을 평행광으로 바꾸어 주는 콜리메이터렌즈와 상기 콜리메이터렌즈 전단부에 위치하며 시료수를 저장하는 샘플셀과 상기 샘플셀 내의 시료수에 포함된 미립자에 의해 산란 된 광을 수광하되 상기 발광부로부터 조사된 광이 지나가는 경로와 수직하게 위치한 수광부와 상기 수광부로부터 입사되는 산란광의 광량을 측정하여 상기 시료수의 탁도를 측정하고 상기 포토다이오드로부터 피드백된 레이저다이오드의 발광량을 검출하여 상기 레이저다이오드의 발광량을 일정하게 제어하는 탁도측정/발광량조정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.시료수의 탁도를 측정하는 장치에 관한 것으로서, 상기 시료수에 광원을 조사하는 레이저다이오드와 상기 레이저다이오드로부터 발광되는 광을 수광하여 탁도측정/발광량조정부로 피드백하는 포토다이오드를 포함하는 발광부와 상기 발광부 전단부에 위치하며 시료수에 조사되는 광을 평행광으로 바꾸어 주는 콜리메이터렌즈와 상기 콜리메이터렌즈 전단부에 위치하며 시료수를 저장하는 샘플셀과 상기 샘플셀 내의 시료수에 포함된 미립자에 의해 산란 된 광을 수광하되 상기 발광부로부터 조사된 광이 지나가는 경로와 수직하게 위치한 수광부와 상기 수광부로부터 입사되는 산란광의 광량을 측정하여 상기 시료수의 탁도를 측정하고 상기 포토다이오드로부터 피드백된 레이저다이오드의 발광량을 검출하여 상기 레이저다이오드의 발광량을 일정하게 제어하는 탁도측정/발광량조정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.