일반기술
광반사식 반사경 검사장치
-본 기술은 광반사식 반사경 검사장치에 관한 것임-본 기술은 반사경을 향해 광을 조사하는 발광수단과, 상기 반사경에서 반사된 광을 촬영하는 촬영수단 및, 상기 촬영수단에 의해 촬영된 영상을 프로젝션하여 검사영역 및 검사위치를 결정하고, 상기 검사영역 및 검사위치에 따라 영상을 스캐닝하여 각 픽셀의 광도값과 임계값을 비교하여 각 픽셀의 광도값이 임계값 보다 크면 결함이 존재한다고 판단하는 제어수단을 포함하여 구성됨-임계값을 임의로 조정가능-전 검사영역에 대해 스캐닝하여 광도값을 구함-픽셀위치가 존재하면 결함이 존재한다고 판단함-반사경의 결함 유무를 자동으로 검사-반사경 검사의 신뢰성 및 생산성이 향상
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 대일기업평가원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2003-07-14
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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