일반기술
광투과식 반사경 검사장치
-본 기술은 광투과식 반사경 검사장치에 관한 것임-본 기술은 반사경의 한쪽 면을 향해 광을 조사하는 발광수단과, 반사경의 다른쪽 면을 촬영하는 촬영수단 및, 촬영수단에 의해 촬영된 반사경의 영상을 스캐닝하여 (+)방향으로 최대광도값을 가지는 위치와 (-)방향으로 최대광도값을 가지는 위치의 사이를 검사영역으로 설정함-본 기술은 검사영역 내의 광도값을 임계값과 비교하여 광도값이 임계값 보다 크면 결함이 존재한다고 판단하는 제어수단을 포함하여 구성됨-소정 위치에 작은 스크레치가 발생하였을 경우에 이를 촬영한 영상의 광도값은 결함부분에 작은 광도값이 나타남-영상을 화상처리를 통하여 수학식으로 얻을수 있음-반사경의 결함 유무를 자동으로 검사-반사경 검사의 신뢰성 및 생산성이 향상
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 계측기기
- 보유기관
- 대일기업평가원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2003-07-14
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.