일반기술

스캐닝 탐색자 현미경을 위한 발열기

본 발열기는 현미경의 어느 부분도 손상시키지 않은 채 실온 환경에서 800°C 까지 표본의 온도를 조절할 수 있다. 이러한 디자인으로, 생물학, 중합, 야금 분야의 다양한 표본의 표면 상태와 형태가 검사된다. 본 장치에는 유전체 창 범위에서 온도를 모니터링 하기 위해 온도 감지 저항 장치가 포함된다. 그리고, 전도성과 표본의 전기 용량을 감지하기 위해 전도성 셀 전극이 포함된다. 또한, 추가적인 시스템 기능을 제공하기 위해 온도 감지 회로, 평가국, 램프 발생기 회로 등 추가 조절 및 측정 하드웨어도 포함된다. 빠른 온도 반응과 정확한 온도 조절을 제공하는, 마이크로 제작된 히터와 온도 감지기를 갖는다. 이 발명은 관심 온도에서 생물학, 중합, 야금 표본의 본래 장소에서의 조사를 가능하게 한다. 본 장치는 극도의 고진공으로부터 고압에 이르는 넓은 범위의 환경에서 호환된다. 또한 기존 스캐닝 탐색자 현미경에 적응 될 수 있고, 새로운 현미경 디자인에 쉽게 통합될 수 있다.