일반기술

광학부품의 편광 위상차 측정장치

본 기술은 단색 선편광이 시료에 의해서 반사될 때 p파의 위상 변화량에 대한 s파의 위상 변화량의 차이를 측정하기 위한 것이다. 여기서 p파는 입사파의 전기장 벡터에서 시료의 면에 수직한 성분으로 정의되고 s파는 나란한 성분으로 정의된다. 본 장치는 단색 광원, 편광자(polarizer), 시료 받침대, 회전형 검광자(rotating polarizer) 그리고 광검출기로 구성되어 있으며 PC를 사용하여 교정 및 측정을 제어할 수 있도록 구성되어 있다.- 기술의 장점 : 본 기술은 빛을 탐침으로 사용하기 때문에 비파괴적이며 비접촉식 측정방법이고, 빛의 편광 변화를 측정하기 때문에 고분해능을 갖고 있으며, 상대적인 물리량을 측정하기 때문에 재현성이 매우 우수 하다.- 기대효과 : 저렴한 가격, 비접촉식 측정법, 고분해능, 그리고 재현성이 우수하여 광픽업용 장치나 액정표시장치 등을 제조하는 공장에서 공정용 계측장비로 많이 사용될 것으로 기대됨