일반기술

방사광 소각 산란 측정장치

본 발명은 방사광 소각산란 측정장치에 관한 것으로서, 방사광 소각산란 측정장치는, 입력 방사광이 통과하면서 그 구조를 분석할 소정 시료와 반응하여 산란되고 그 산란된 신호가 출력되는 빔 라인; 빔 라인을 통과하는 방사광을 제어하기 위해 빔 라인의 소정 부분들을 제어하는 빔 라인 통제부; 빔 라인을 통과한 산란된 방사광 신호를 검출하는 신호 검출부; 빔 라인 통제부와 통신하고, 신호 검출부로부터 수신한 신호를 저장 및 디스플레이하는 주제어부를 포함한다.본 발명에 의하면, 주제어부에서 측정과 관련된 모든 장치를 일괄적으로 제어하고 산란 데이터 분석에 필요한 데이터를 실시간으로 측정함으로써 실험의 정확도를 높이고 고분자의 구조분석에 필요한 소각산란 실험을 용이하게 실시할 수 있다.본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 한 대의 컴퓨터를 이용하여 방사광 소각 산란 실시 관련 여러 제어 및 측정 장치들을 보다 정확하게 감지하고 제어하여 보다 정확한 데이터를 얻을 수 있는 방사광 소각산란 측정장치를 제공하는데 있다.