일반기술

비접촉식 전압감지장치

본 기술은 감지 대상물에 접촉하지 않고도 감지 대상물의 단자전압을 감지할 수 있는 비접촉식 전압감지장치에 관한 것이다. 종래에는 다양한 금속전극의 패턴을 검사하기 위해서 단자에 직접 탐침(Probe)을 접촉시켜 전극패턴을 검사하였다. 탐침방법은 탐침을 접촉시킨 후에 감지대상물 단자의 표면이 손상되므로, 1회 측정만 가능하고 그 이상의 탐침측정이 어려울 뿐만 아니라 측정에도 많은 시간이 소요되어 비경제적인 문제점이 있었다. 본 기술의 비접촉식 전압감지장치는, 감지대상물의 단자, 감지대상물의 단자로부터 설정거리만큼 사이를 두고 설치되며 단자와의 전압차에 상응하는 밝기의 광을 발생하는 센서부, 센서부로부터 발생된 광의 밝기와 광이 발생된 부위 등을 감지하여 그에 상응하는 데이터를 출력하는 광감지부 및 감지대상물의 단자와 센서부로 서로 다른 극성의 구형파전압을 인가하는 전원공급부로 구성된다. 본 기술은 서로 근접된 감지대상물의 단자와 센서부에 서로 다른 극성의 구형파전압을 인가하여 감지대상물의 단자와 센서부 간의 전압차를 발생시킴으로써, 센서부로부터 단자와의 전압차에 상응하는 밝기의 발광이미지를 발생시킨다. 센서부로부터 발생된 발광 이미지는 광감지부로 입력되어 영상데이터로 변환되며 이 광감지부에서 변환된 영상데이터를 분석함에 의해 검사대상물의 단자전압을 감지하고 금속전극패턴의 형태 및 불량이 발생된 위치를 검사할 수 있다.- 본 기술은 센서부로부터 발생된 발광 이미지는 광감지부로 입력되어 영상데이터로 변환되며 이 광감지부에서 변환된 영상데이터를 분석함에 의해 검사대상물의 단자전압을 감지하고 금속전극패턴의 형태 및 불량이 발생된 위치를 검사할 수 있음- 검사대상물의 단자나 금속전극패턴에 접촉하지 않고 전압을 감지하기 때문에, 탐침의 접촉에 따른 검사 대상물 단자 및 금속전극패턴의 손상이 발생되지 않아 반복적인 전압 감지가 가능하며 검사가 보다 신속하게 간편하게 수행되는 효과가 있음- 센서부를 통해 다양한 모양을 갖는 금속전극패턴 및 단자의 영상이 얻을 수 있고 이를 통해 불량이 발생한 위치 등을 검사할 수 있는 바, 액정표시패널과 같이 대면적의 기판 상에 복잡하고 많은 수의 금속전극패턴이 형성되어 있는 검사대상물에 대해 금속전극패턴의 불량여부를 간편하고 신속하게 검사할 수 있음