일반기술
광화이버를 통한 아토믹 포스 마이크로스코프 탐침 광 전송방법
기존의 아토믹 포스 마이크로프스코프에서는 렌즈를 이용하여 100 정도의 작은 위에 레이저빔을 집속하여 팁의 움직임을 측정하는 탐침광으로 사용하였는데 본 발명은 광화이버를 팁에 매우 가깝게 접근시켜서 렌즈 없이 레이저 빛을 팁 끝에 조사하여 탐침광으로 사용하였다. 종래 기술은 렌즈를 사용하고 레이저를 헤드에 장착하기 때문에 헤드의 부피가 커져서 사용에 제한이 있다. 그러나 본 발명은 광화이버를 이용하여 빛을 팁에 전달하므로 헤드를 소형화 할 수 있어서 기계적 견고성이 향상되고 사용하기가 편리하며, 적용환경에 제한을 없애서 진공, 좁은 공간 등의 특수한 환경에서도 사용 가능하며, 좋은 레이저를 사용하여 신호 특성을 향상시킬 수 있다. 기존의 아토믹 포스 마이크로프스코프에서는 렌즈를 이용하여 100 정도의 작은 위에 레이저빔을 집속하여 팁의 움직임을 측정하는 탐침광으로 사용하였는데 본 발명은 광화이버를 팁에 매우 가깝게 접근시켜서 렌즈 없이 레이저 빛을 팁 끝에 조사하여 탐침광으로 사용하였다. 종래 기술은 렌즈를 사용하고 레이저를 헤드에 장착하기 때문에 헤드의 부피가 커져서 사용에 제한이 있다. 그러나 본 발명은 광화이버를 이용하여 빛을 팁에 전달하므로 헤드를 소형화 할 수 있어서 기계적 견고성이 향상되고 사용하기가 편리하며, 적용환경에 제한을 없애서 진공, 좁은 공간 등의 특수한 환경에서도 사용 가능하며, 좋은 레이저를 사용하여 신호 특성을 향상시킬 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 기계 > 기타 표준·측정·시험평가 기술
- 보유기관
- 한국과학기술지주(주)
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2004-06-08
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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