일반기술
3차원 측정기
3차원 상에서 피측정물과 접촉하는 프로브를 이용하여 발생하는 상대적 변위를 전기적 신호로 변환하여 임의의 피측정물의 특정점 위치를 검출함으로써, 자유 곡면을 구비한 복잡한 형상의 피측정물 등의 측정을 보다 용이하게 하기 위한 3 차원 측정기에 관한 것이다.프레임의 중량이 경량으로 설계되어 그 제조 단가가 상대적으로 저렴하고, 측정 대상물의 자유 곡면 상으로 구름운동을 하는 프로브 시스템을 적용하여 곡면의 연속 측정을 용이하다. 이로인해 측정시간을 단축시킬수 있는 효과가 있다.
기술정보
- 기술분류
- 기계 > 기타 표준·측정·시험평가 기술
- 보유기관
- 정보 없음
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2004-09-30
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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