일반기술
내장 전류감지기와 타임스롯 기법을 이용한 아날로그 회로 진단 기술
아날로그 회로의 테스트는 매우 복잡하고 어렵다. 본 기술은 아날로그 회로 및 혼합신호회로를 효과적으로 테스트 할 수 있는 기술로서 타임 슬롯개념을 도입하여 아날로그 신호의 변화를 특별히 개발된 전류감지기를 사용하여 감지해 내고 이를 디지털 신호로 변환하여 설계과정에서 미리 측정된 전류 제한 조건을 가지고 고장 유무와 위치를 판단한다. 테스트 비용이 특히 크게 소요되는 아날로그 회로 및 혼합신호 회로의 테스트에 적합하다.본 기술은 아날로그 및 혼합신호 IC(집적회로) 시스템 설계 시 필수적인 테스트 과정에서 기존의 방법에 비해 높은 고장 검출율을 얻을 수 있는 기술로서 집적회로 제작에 필요한 테스트 비용을 줄이는 데 효과적이다.
기술정보
- 기술분류
- 통신 > 기타 통신
- 보유기관
- 한국산업기술진흥원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2004-10-28
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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