일반기술

주파수 특성을 이용한 분기선 및 ＰＤＰ 전극 검사 방법

본 기술은 분기선을 가진 전송선이나 PDP(Plasma Display Panel)에서 분기선 혹은 전극을 통과하는 신호의 주파수 특성을 측정하여 빠르고 저렴하게 이상 유무 및 이상 위치까지 알 수 있는 주파수특성을 이용한 분기선 및 PDP 전극검사 방법에 관한 것이다. 본 기술은 다수의 검사대상전극과 직접 접촉되지 않도록 그라운드 플레인을 형성하고, 다수 검사대상전극의 일단에 접촉되도록 전송선을 추가한 후 전송선의 일단에 소정 간격을 갖는 다수 주파수로 이루어진 검사신호를 인가하고 전송선의 다른 단으로부터 출력되는 신호파형의 주파수별 피크치를 검출하여 검출된 출력파형특성을 분석하여 전극의 이상을 판단하는 것이다. 본 기술은 주파수 특성 측정을 통한 PDP 전극의 이상유무 및 이상 위치를 검사하는 것으로,종래에 비하여 검사 속도가 빠르며,검사 해상도 조절이 용이하고,검사 비용을 줄일 수 있다는 장점이 있다. PDP 뿐 아니라 그와 유사한 분기선 구조를 가지는 전송선 검사에도 활용 가능하다.