일반기술

정보저장용나노자성물질및자성측정시스템

본 기술은 나노정보저장기술에 관련된 기술로서 크게 정보저장용 나노자성물질, 나노자성박막의 자기적 특성 측정 시스템 및 자기메모리 소자인 Mangnetic Random Access Memory(MRAM)의 새로운 스핀스위칭 구동 및 구동장치로 이루어진다. - 정보저장용 나노자성물질 Magneto-Optical(MO) 기록 매체로 사용 가능한 Ni/Pt 다층박막 및 MO 기록매체 제작을 위한 새로운 개념의 media 구조와 제작방법 개발. -나노자성박막 자기적 특성 측정 시스템 1. 광자기 현미경 자력계는 400 나노미터 분해능으로 자성박막의 실시간 자구거동현상 측정이 가능한 장비로서, 8000개 국소영역의 동시 측정이 가능하다. 2. 박막 스트레스(응력) 측정장치는 광섬유 다발을 이용한 변위 측정 장치를 이용하여, 박막제조시 발생하는 응력을 실시간, 초고감도로 측정이 가능한 박막 응력 측정 시스템이다. 3. 광자기ㆍ타원 분광기는 빛의 파장을 바꾸어가면서 측정할 수 있는 광자기 커 분광기와 광학적 특성을 측정할 수 있는 분광타원 해석기를 하나의 장비로서 측정이 가능한 시스템이다. - MRAM의 스핀스위칭 구동 및 구동장치 MRAM에 사용되는 자기기록 메모리셀의 스핀스위칭 구동을 압전박막층을 각 셀에 삽입하여 인장응력을 변조함으로써 자성박막의 자발 스핀 용이축을 가역적으로 제어하는 기술.- Ni/Pt 다층박막은 고밀도의 광자기 기록에 적합한 기록매체로서 ,소정의 두께와 적층수를 가지는 니켈층 및 백금층의 다층으로 구성되어 상온에서 수직자기이방성을 가지는 광자기 기록매체임. - 광자기 현미경 자력계는 편광현미경을 이용하여 400 나노미터의 공간분해능으로 실시간으로 자구거동현상 측정이 가능하며, 8000개의 국소영역의 자기적 특성을 동시에 측정가능함. 박막 스트레스 측정장치는 단 원자층 두께의 박막에 의해 야기되는 스트레스 측정이 가능하며, 이를 위해 광섬유 다발로 이루어진 초고감도 변위 측정장치를 사용함. 독립적으로 운용되어지던 광자기 커 분광기와 분광타원 해석기를 통합하여 한가지 장비를 이용해서 가능케 함. - MRAM에서 각 셀의 스핀방향을 가역적으로 제어하는 방법으로서, 압전박막층을 이용한 전압 인가방식의 스핀반전 구동방식을 개발함.