일반기술
탄소나노튜브프로브를이용한현미경장치
탄소 나노튜브 프로브를 이용한 현미경 장치에 관해 개시하고 있다. 본 발명의 현미경 장치는, 스핀이 극화된 주사터널링 현미경 장치 또는 자기력 현미경 장치로서, 시료의 자성특성을 조사하기 위하여, 자성 프로브의 팁으로서 탄소 나노튜브를 이용하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 시료의 원자 및 나노미터 크기의 수준에서 스핀 혹은 자성 분포를 측정할 수 있다.(1) 탄소 나노튜브의 벽의 개수는 1-100의 범위 내에 있도록 선택할 수 있으며, 또한, 상기 탄소 나노튜브의 직경은 0.5-20㎚의 범위 내에 있도록 선택할 수 있다. (2) 지그재그형 홀전자 배열을 가진 탄소 나노튜브 팁이 자성 특성을 가지게 됨으로서, 시료의 자성특성에 의존하는 터널링 전류가 흐르게 되고 (SP-STM), 혹은 시료의 자성특성에 따라 Cantilever가 받는 자기력이 변하게 된다 (MFM). 이러한 변화를 이용하여 시료의 자성특성을 imaging할 수 있다. (3) 단일겹, 다중겹으로 이루어진 탄소 나노튜브 모두 가능하며, 특히 내부에 강자성 물질을 내포하고 있을 때 더욱 효율적이다. 주사터널링현미경용 자성 프로브로서 동작하기 위한 조건은 팁에 위치한 홀전자들이 지그재그형 배열을 이룰 때 가장 효과적이다.
기술정보
- 기술분류
- 기계 > 기타 기계
- 보유기관
- 한국과학기술기획평가원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2004-11-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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