일반기술
센싱부가 다중화된 광전류 측정장치
본 기술은 도선 주위를 감는 광도파로 센싱부의 군취 횟수를 달리하여 다중화함으로써 전류 측정범위 및 정밀도를 가변할 수 있으며, 집적도니 형태로 구성함으로써 손실을 줄이고, 외부 진동 등의 영향을 없앨 수 있는 센싱부가 다중화된 광전류 측정장치를 구현하는 것이다.도선 주위를 감는 광도파로 센싱부의 권취 횟수를 달리하여 다중화함으로써 전류 측정범위 및 정밀도를 가변하고, 집적된 형태로 구성함으로써 손실을 줄이고 외부 진동 등의 영향을 없애는 것을 특징으로 하는 기술이다.
기술정보
- 기술분류
- 전기·전자 > 기타 전기/전자
- 보유기관
- 성균관대학교
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2004-11-29
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.