일반기술
기억과 이해능력의 input 지수와 논리와 평가능력의 potput 지수를 고려한 심층적 영재판별, 영재성 패턴 분석 및 영재지수화 시스템
영재 판별 검사를 이용한 영재 지수를 산출하고, 영재성 패턴을 분석하고, 영재 특성을 찾는 방법론 및 이 방법론을 이용한 영재 판별 시스템 개발이다.본 기술은 영재 판별 검사 결과를 종합적으로 분석하여 영재지수화 하고, 영재를 영재 특성에 따라 나누고, 나눈 그룹에 대해 영재성 패턴을 찾고, 그 성질을 규명한다.
기술정보
- 기술분류
- 정보 > 기타 정보
- 보유기관
- 한국과학기술원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2004-12-10
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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