일반기술
각기 다른 금속물질의 단차 측정을 위한 두 파장 백색광간섭법과 간섭계
백색광 간섭무늬의 두 정점(가시도 정점, 위상 정점)을 이용하여 금속물질의 반사시 유발되는 위상변화를 보상한다.측정하고자 하는 금속물질의 성질을 모르는 상태에서 단 한번의 측정 작업으로 오차를 보상할 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 기계 > 기타 기계
- 보유기관
- 한국과학기술원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2004-12-10
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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