일반기술

각기 다른 금속물질의 단차 측정을 위한 두 파장 백색광간섭법과 간섭계

백색광 간섭무늬의 두 정점(가시도 정점, 위상 정점)을 이용하여 금속물질의 반사시 유발되는 위상변화를 보상한다.측정하고자 하는 금속물질의 성질을 모르는 상태에서 단 한번의 측정 작업으로 오차를 보상할 수 있다.

기술정보

기술분류
기계 > 기타 기계
보유기관
한국과학기술원
기술유형
일반기술
등록일
2004-12-10
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

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