일반기술
3차원 공간좌표 검출을 위한 위상 측정 부피간섭계
본 기술은 두 개의 구면파 광원의 간섭을 통해 얻은 광위상으로부터 광원의 3차원 공간 좌표를 구하기 위한 위상 측정 부피간섭계에 관한 것이다.시스템 구성이 간단하고 적은 비용으로 정밀한 3차원 좌표 측정이 가능하다.간편하고 정밀한 좌표측정이 가능해 짐으로서 정밀기계나 측정기에 널리 사용될 수 있다.
기술정보
- 기술분류
- 물리학 > 기타 광학
- 보유기관
- 한국과학기술원
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2004-12-10
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
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