일반기술

X-선 위치 검출기의 동시성 선택 회로

본 발명은 디지털 ×-선 사진촬영장치의 ×-선 위치검출기에 관한 것으로 특히 위치분해능 향상을 위한 ×-선 위치검출기의 동시성 선택회로에 관한 것이다. ×-선 위치검출기는 ×-선 입사위치를 측정하는 장치로서 ×-선 영상을 얻는데 사용될 수 있다. 현재 ×-선 영상을 얻는 방법으로는 ×-선, 필름, 영상판(image plate), 영상증배관, 형광체 또는 섬광체 등의 적산형이 사용되는데 이는 영상의 형태가 아나로그 형식이기 때문에 디지털화 하기가 용이치 않다. 이와는 달리 계수형의 ×-선 검출기는 입사 ×-선 광자를 계수하는 방법으로 영사자료를 디지털 형식으로 직접 얻을 수 있다.본 발명은 계수형으로 동작하는 일차원 다중선비례계수관(MWPC : Multi-Wire Proportional Chamber)에서 위치분해능 향상을 위한 것이다.일차원 다중선비례계수관은 기체형 검출기로 다수의 양극선과 음극선으로 구성되어 있으며 이 전극들은 기체가 봉입된 함(chamber)내에 있다. ×-선이 함내에 입사하면 기체를 전자와 이온으로 전리시킨다. 이때 전자는 양극으로 끌려와 양극선 표면 부근에서 전하증폭을 일으키게 된다. 또한 입사 ×-선의 위치정보는 이 양극선으로부터 획득한다. 다수의 양극선은 일정한 간격을 가지고 배치되어 있으며 이 간격에 의해 위치분해능은 결정된다. 위치분해능을 향상시키기 위하여 양극선 간격을 좁히는 것이 필요하지만 양극선 간격과 여기에 인가되는 전압은 반비례하므로 보다 좁게 양극선 간격을 유지할 경우 검출기의 국부적 방전 등으로 인하여 불안정한 동작 및 특성을 보인다. 결과적으로 본 발명에서와 같은 ×-선 검출기 구조에서는 양극선 간격의 최소값이 선정 된다.