일반기술
코팅면 하부의 미세크랙 검출장치
본 시스템은, 코팅된 표면 영역을 조사(照射)하기 위한 중간 적외선 검출 유닛(MIR), 중간 적외선 검출 유닛으로부터 수신된 광학적 특성으로부터 이미지를 생성하기 위한 처리 유닛을 포함한다. 본 시스템은 MIR 검출 유닛을 다음 영역으로 이동시키기 위한 스캐닝 유닛을 추가로 포함할 수도 있다. 페인트나 기타 코팅은 부식이나 손상을 방지를 위해 표면에 도포되는 것이 일반적이다. 크랙, 부식 또는 다른 재료의 결함은 경우에 따라서는 페인트 코팅 하부에서 발생되어, 육안으로 감별 불가능할 수도 있다. 더욱이 페인트 하부 층은 완전한 상태라고 해도 페인트 자체에 크랙이 발생될 수도 있다. 이에 따라, 불필요한 수리가 요구될 수도 있다. 종래의 검사는, 초음파, 자기광학적방법, 활성 온도기록계(thermograph), 육안 검사, 스펙트럼 이미지, 및 광기술(photonic techniques) 등을 포함하는 하나 이상의 비파괴 이미지형성기술에 의해 수행될 수 있다. 이러한 방법들은 특정 형태의 부식이나 손상을 검출하는 데는 유용하지만, 40마이크론보다 두꺼운 후막 페인트 아래의 초기 단계 부식을 검출할 수 없는 등의 결함이 있다. 중간 적외선 빛을 사용함으로써, 40마이크론보다 두꺼운 페인트층 아래의 금속 표면 내 크랙과 부식을 검출하는 데에, 개선된 검출 시스템이 사용될 수 있다. 적외선은 근적외선, 중간 적외선, 원적외선의 세 가지 영역으로 분류된다. 근적외선은 가시광선에 가까운 적외선 스펙트럼 부분을 의미하며, 원적외선은 초음파 영역에 가까운 부분을 의미한다. 중간 적외선은 이들 둘 사이의 영역을 의미한다. MIR 검출 유닛은 코팅된 영역을 비추고, 반사된 빛의 광학적 특성을 조사하며, 수신된 정보로부터 이차원 이미지를 생성시킨다. 본 발명은 유닛을 연속 스캐닝에 이동시키기 위한 기구를 포함한다.본 시스템은 현재의 항공기 NDI 기술을 보완할 수 있다. 현재는 페인팅된 표면 아래의 실제 실시간 이미지를 제공하는 기술은 없다. 본 기술은, 상당량의 인장을 부담하며 손상받을 확률이 매우 높은 리벳 헤드와 패스너 주변 표면에 대한 검사를 제공해준다. 본 기술은, 리벳헤드와 패스너 둘레의 0.020“보다 작은 아주 작은 크랙의 영상도 분해할 수 있다. ..................................................................................................
기술정보
- 기술분류
- 화학공정 > 기타 화학공정
- 보유기관
- 경기기술이전센터
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2005-01-24
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
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