일반기술

광학을이용한선재의표면결함검출장치및그방법

본 기술은 레이저(Laser)광을 이용한 비 접촉식 방법으로 선재의 표면 결함을 검출할 수 있도록 한 광학을 이용한 선재의 표면 결함 검출장치 및 그 방법에 관한 것이다. 기재발되어 사용되고 있는 검출장치는 백색 광원의 일정한 광량을 선재에 투과시켜 통과된 광량의 변화에 따라 선재의 요철 상태를 판단할 수 있도록 하고 있으나, 이러한 경우에는 투과시키는 광원의 세기를 일정하게 유지시켜야 하며 검출된 광량의 변화를 판별하는데 있어서 매우 정교한 기술을 필요로 한다는 문제점을 내포하고 있었다. 따라서 이 기술은 상기의 종래 문제점을 완전 해소하기 위해 창출된 것으로서 레이저 광의 반사 및 회절에 의해 빠른 속도로 제조되고 있는 선재의 표면 결함을 검출할 수 있도록한 광학을 이용한 선재의 표면 검출장치 및 그 방법을 제공하려는데 목적이 있다.광학을 이용한 선재의 표면 결함 검출 장치를 구성함에 있어서 하부 케이스의 내부 일측으로 헬륨-네온 레이저가 설치되고 그 전방으로 원통형 렌즈와 하부 미러가 설치되며, 하부 미러의 직상방 좌측 상부 케이스내에는 평 볼록 렌즈와 상부 미러가 설치된다. 좌측 상부 케이스의 우측면에 천공된 관통공의 내부에는 슬릿 홀더가 세워지며, 우측 상부 케이스의 좌측면에는 좌측 상부 케이스의 관통공과 동일 선상으로 선재의 표면 결함에 의한 레이저 광의 반사 및 회절 무늬 만을 검출하기 위한 마스크가 전면에 부착된 렌즈가 설치되고, 그 내부에는 핀 다이오드가 설치된다.