일반기술
Wavefront 감지 장치
광학 wavefront의 형태에서 굴곡을 감지하는 새로운 장치.옥스포드 대학의 기술설계학부 연구원은 광학 wavefront의 형태에서 굴곡을 감지하는 새로운 장치를 개발했다. 이 개발은 일반 현미경 및 특히 confocal(공초점) 현미경에서 적합한 광학 시스템에 특히 유용할 것이다. 광학의 시스템은 wavefront 굴곡들과 같은 수차(收差, aberration)들로 부터 자유로워질 때 가장 좋은 실행할 수 있는 것이다. 이것은 이미지화 실행이 이론적인 한계에 근접한 망원경과 현미경 시스템들에게 더욱 특별하다. 이 적합한 시스템들은 이 문제들을 정정하기 위해 디자인되었다. 수차가 측정되었으면 광학의 시스템은 원래의 ideal에 정확하게 적용될 수 있다. 여기서 Schack-Hartmann wavefront 센서는 이 수차들의 측정을 정확히 할 수 있다. 이 센서는 렌즈들의 배열과 사진 탐지기들의 각각의 배열로 이루어져 있다. 광학 wavefront의 평탄의 측정이 알려지면, 광학의 시스템은 수차를 정확히 측정하기위해 적용될 수 있다.○ Confocal 현미경 시스템 등의 사용에 알맞다.○ 레이저, 화상 처리 시스템 정렬, 레이저 기계 제조 또는 광학의 자료 저장 제어와 같은 범위로 확장된다. ○ 전통적인 wavefront 센서들보다 잠재적으로 제조하는데 더 쉽고, 더 큰 민감성을 가진다.○ 필요한 최종적인 처리를 단순화함으로써 그것이 생성하는 감응은 wavefront 형태의 직접적인 측정을 가져다준다.옥스포드 발명은 전통적인 wavefront 센서들보다 많은 강점들이 있다. 이 발명은 잠재적으로 제조하는데 더 쉽고, 더 큰 민감성을 가진다. 필요한 최종적인 처리를 단순화함으로써 그것이 생성하는 감응은 wavefront 형태의 정확한 측정을 가능하게 한다. 그러므로 특히 confocal 현미경 시스템들에서의 사용에 알맞다.
기술정보
- 기술분류
- 물리학 > 기타 물리학
- 보유기관
- 정보 없음
- 기술유형
- 일반기술
- 등록일
- 2005-04-21
- 데이터 갱신일
- 정보 없음
상세설명
정보 없음
관련 특허
등록된 관련 특허가 없습니다.