일반기술

프리즘 상수가 제로인 평면반사경을 이용한 반사 조정장치

본 기술은 프리즘 상수가 제로인 평면 반사경과 그 반사각 조정장치에 관한 것으로, 특히 정밀 거리를 측정하기 위해 구형 하우징의 구심을 지나는 면에 프리즘 상수가 제로인 평면 반사경을 설치하여 하우징의 중심축과 반사경의 반사면이 수직으로 일치되도록 외부 전용 조정장치를 추가하여 적용함으로서 EDM(Electro-Optical Distance Meter)의 기계상수 및/또는 프리즘 상수를 각각 정밀하게 측정할 수 있는 반사 조정장치에 관한 것이다. 이 장치는 구형상의 중앙에 수평 축방향으로 관통된 소정의 부분에 끼울 수 있도록 내주면에 끼움턱이 형성된 하우징과(1); 이 끼움턱에 빛을 반사하는 반사체인 반사경이 수직으로 장착되고, 상기 반사경이 상기 하우징의 내부에 고정되도록 일면에 원판형상의 뚜껑을 밀착시켜 내장되는 반사부(2)와; 상기 하우징의 하단이 상면에 결합 고정되고, 밑면에는 여러 개의 지지대 일단이 결합되어 지면으로부터 소정간격 만큼 이격 되는 트리포드(3)와; 상기 트리포드의 일단에 중앙이 관통된 원형의 회전체가 감싸지며, 상기 회전체의 일측에 수직 연장된 위치고정대의 일면에 다수의 고정나사부가 끼워져 타면으로 돌출되는 위치 조정부(4)를 포함하는 것이 특징이다.기존의 거리측정 프리즘은 프리즘상수가 기존회사에서 제공한 옵셋 값을 이용하여 알 수가 있으며 그 값을 알지 못할 경우에는 프리즘상수를 측정하기 어려운 점이 있었다. 또한 프리즘의 옵셋 값을 교정하거나 거리측정 장비의 옵셋 값을 분리하여 측정할 필요가 있을 때에는 이와 같은 옵셋 값 0 인 프리즘이 반드시 필요하게 된다. 본 기술은 이들 특수반사경을 만드는 방법, 표준프리즘제작 방법, 거리측정의 옵셋을 줄이는 방법 등에 대한 기술로서 산업용 정밀공업측량, 측지측량, 방위산업용 측지측량 등에 정밀 측량분야에 사용이 가능한 기술이다. 이 기술을 이용하면 거리 측정정확도를 기존의 수 ~ 수십 mm 값에서 10배 이상 개선된 0.1mm 정도의 정확도로 측정이 가능하게 된다. 사업성이나 예측되는 국내외 시장성은 그리 크지 않으나 기존의 측량기기 관련 업체에서 활용하면 높은 정밀도의 측량이 가능하다.