일반기술

200-500^o C 범위에서의 다른 물체에서의 최고온도 레벨의 측정을 위한 기숙과 결정형태 지시기의 개발

소형 결정 지시기를 사용해서 다양한 정지 움직이는 물체에서의 200-500^o C 의 최고온도 검출을 위한 효율적인 기술이 산업, 과학응용 분야를 위해서 개발되었다. 측정 과정동안 온도에 노출한 후, 결정형태 센서는 X-ray 기술에 의해 분석되고, 시험동안 얻어진 최고 온도가 설정된다. 센서는 중성자 방사에 대한 다른 몇몇 재료들의 SiC의 결정을 보여준다. 히팅하에서 원자 결정 격자의 내부 결함에서 감소 정도는 테스트하는 동안 최고온도 수준에 관한 정보를 준다.- 2000^o C 이상까지 온도 한계의 증가- 산업분야로 응용 확대

기술정보

기술분류
물리학 > 기타 광학
보유기관
특허법인충정
기술유형
일반기술
등록일
2000-04-24
데이터 갱신일
정보 없음

상세설명

정보 없음

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